{"id":19374667,"date":"2024-12-12T14:00:25","date_gmt":"2024-12-12T13:00:25","guid":{"rendered":"https:\/\/www.metrologicdcs.com\/metrolog-und-silma-x4-x4v5-v22ga-veroeffentlichung\/"},"modified":"2024-12-12T14:00:25","modified_gmt":"2024-12-12T13:00:25","slug":"metrolog-und-silma-x4-x4v5-v22ga-veroeffentlichung","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.metrologicdcs.com\/de\/metrolog-und-silma-x4-x4v5-v22ga-veroeffentlichung\/","title":{"rendered":"Metrolog und Silma X4-X4V5 V22GA Ver\u00f6ffentlichung"},"content":{"rendered":"

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Wir freuen uns, Ihnen die Ver\u00f6ffentlichung Ihrer neuesten Version X4 Product Line V22GA<\/strong> ank\u00fcndigen zu k\u00f6nnen. Diese Version ist bereits in Ihrem Extranet verf\u00fcgbar: <\/p>\n

Gehen Sie zur Download-Zone<\/a><\/p>\n

Industrie 4.0 ver\u00e4ndert die Fertigung weiter, indem es die Digitalisierung vorantreibt, die Automatisierung verbessert und die Effizienz steigert. Dank dieser Entwicklung k\u00f6nnen Sie Aufgaben schneller, mit gr\u00f6\u00dferer Pr\u00e4zision und weniger Fehlern erledigen. <\/p>\n

Wir freuen uns, Ihnen in dieser neuesten Version erhebliche Leistungsverbesserungen bieten zu k\u00f6nnen. Abh\u00e4ngig von Ihrer Ausr\u00fcstung k\u00f6nnen Sie mit k\u00fcrzeren Zykluszeiten, beschleunigten Berechnungen der Pr\u00fcfpfadplanung und erh\u00f6hter Sicherheit bei der Offline-Erstellung von KMG-Trajektorien rechnen. Und wie immer haben wir die Kompatibilit\u00e4t mit neuen Schnittstellen erweitert, um Ihren Arbeitsablauf zu optimieren. <\/p>\n

Entdecken Sie die neuen Funktionen und Innovationen in dieser Version unten!<\/p>\n

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\nGlobale Funktionen f\u00fcr alle Segmente<\/strong><\/h4>\n

\"\" First Article Inspection (FAI) Report
\n<\/strong>Wir kennen die Herausforderungen, die mit der Validierung neuer oder aktualisierter Produktionsprozesse in Branchen mit anspruchsvollen Vorschriften und Prozesskontrollen verbunden sind, um sicherzustellen, dass die Teile die festgelegten Anforderungen erf\u00fcllen. Aus diesem Grund haben wir den Prozess in Metrolog X4 f\u00fcr Sie vereinfacht. Es ist jetzt einfacher denn je, eine FAI-Tabelle (First Article Inspection) in Ihre Metrologieberichte aufzunehmen. <\/p>\n

\"\" Verbesserte Oberfl\u00e4che f\u00fcr den Befehl “GDT scannen”
\n<\/strong>Der Befehl “PMI scannen” wurde durch “GD&T scannen” ersetzt, um einen umfassenderen Ansatz f\u00fcr die Anzeige zus\u00e4tzlicher GD&T-Attribute f\u00fcr jedes Feature zu bieten. Diese Aktualisierung erm\u00f6glicht ein klareres, intuitiveres Verst\u00e4ndnis des Teils, und das alles in einem einzigen Fenster. <\/p>\n

\"\" Datum Reference Frame jetzt aus CAD verdaulich
\n<\/strong>Wir arbeiten weiter an der Integration der Unterst\u00fctzung von Data Reference Frame (DRF) in X4. Es ist jetzt m\u00f6glich, den DRF automatisch aus dem CAD zu importieren und zu dekodieren. <\/p>\n

\"\" “Kurvenmodus” f\u00fcr die Ausrichtung von Punktwolken
\n<\/strong>Vision-Systeme k\u00f6nnen Kurvenpunktwolken erzeugen, die durch Punkte gekennzeichnet sind, die sich entlang der Kanten des gescannten Teils konzentrieren. Um die Ausrichtung dieser Punktwolken mit Ihrer CAD-Datei zu optimieren, haben wir einen speziellen “Kurven”-Modus eingef\u00fchrt, der unseren bestehenden “Oberfl\u00e4chen”-Modus erg\u00e4nzt. Diese Verbesserung macht die Ausrichtung von Punktwolken mit bester Passung f\u00fcr Kurven-Punktwolken intuitiver und effizienter. <\/p>\n

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\"\" Kollisionserkennung und -vermeidung jetzt in Metrolog verf\u00fcgbar!
\n<\/b>Metrolog verf\u00fcgt jetzt \u00fcber Funktionen zur Kollisionserkennung und -vermeidung, wenn es von der Maschine getrennt ist, was einen sichereren Betrieb gew\u00e4hrleistet. Die M\u00f6glichkeit, Messpfade offline zu aktualisieren und gleichzeitig potenzielle Kollisionen zu erkennen und zu vermeiden, ist eine Sicherheitsma\u00dfnahme, die zum Schutz Ihrer Ausr\u00fcstung beitr\u00e4gt und die allgemeine Sicherheit erh\u00f6ht. <\/p>\n

\"\" Reduzierte Zykluszeiten f\u00fcr 5-Achsen-Scans f\u00fcr Revo
\n<\/strong>Um die Effizienz bei der Ausf\u00fchrung von Scanprogrammen zu optimieren, haben wir die M\u00f6glichkeit eingef\u00fchrt, Scans zu verkn\u00fcpfen. Mit dieser Verbesserung k\u00f6nnen mehrere Scan-Messungen nacheinander durchgef\u00fchrt werden, ohne dass die Sonde angehoben werden muss. Durch den kontinuierlichen Kontakt mit dem Material entf\u00e4llt die Notwendigkeit des wiederholten Zur\u00fcckziehens und erneuten Herantastens. Dies verbessert den Arbeitsablauf und, was noch wichtiger ist, es reduziert die Zykluszeit. <\/p>\n

\"\" Neue Schnittstellen verf\u00fcgbar
\n<\/b>Wie immer setzen wir unsere Universalit\u00e4t fort und haben zwei neue Schnittstellen in unsere Ger\u00e4teliste aufgenommen:<\/p>\n